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华岭股份申请全息存储分析系统相关专利,实现全息存储内存储即分析的近数据智能分析作用

新浪证券-红岸工作室

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11月4日消息,国家知识产权局信息显示,上海华岭集成电路技术股份有限公司申请一项名为“一种实现存储即分析的全息存储内近数据智能分析系统和方法”的专利。申请公布号为CN123033531A,申请号为CN202611214855.3,申请公布日期为2026年11月3日,申请日期为2026年8月11日,发明人傅秀菲、罗斌、熊忠应、鲍小燕,专利代理机构北京瑞诚智联知识产权代理事务所(普通合伙),专利代理师方丁一,分类号G11B7/0065、G02B27/00、G03H1/02、G03H1/12、G01R31/28、G06E3/00。

专利摘要显示,本发明公开一种实现存储即分析的全息存储内近数据智能分析系统和方法,将测试数据编码为若干二维数据页;根据预设分析任务需求,将各二维数据页存储至全息存储介质对应的空间位置;根据预设分析任务需求,配置光学分析引擎;通过光学分析引擎接收全息存储介质内目标测试数据所在空间位置对应形成的衍射光,对衍射光执行运算,输出结论光场;接收和转换结论光场,得到结论电信号;根据结论电信号,向测试设备反馈分析结论信息。本发明将分析引擎嵌入存储读取光路中,使“读取光路”同时成为“分析光路”,使得“数据出射”与“结论生成”在时间和空间上完全重合,实现“存储即分析、读出即结论”的效果。

华岭股份是国内领先的专业集成电路测试服务商,深耕第三方IC测试领域,具备深厚的技术积累与全流程测试服务能力。公司成立于2001年4月28日,于2022年10月28日在北京证券交易所上市,注册及办公所在地均为上海市。

华岭股份主营业务涵盖晶圆测试、IC成品测试、测试验证分析、测试技术研究、程序开发及自有设备租赁,所属申万行业为电子-半导体-集成电路封测,同时隶属于MCU概念、汽车芯片、北交所上市企业概念板块。

2026年三季度,华岭股份实现营业收入2.55亿元,在所属14家同行业企业中排名第14位,当期行业营收第一名长电科技达309.52亿元,第二名通富微电为248.85亿元,行业平均营收64.25亿元,行业营收中位数为14.9亿元;当期公司净利润为-609.15万元,在14家同行业企业中排名第12位,行业净利润第一名通富微电达31.53亿元,第二名长电科技为15.89亿元,行业平均净利润5.01亿元,行业净利润中位数为5463.86万元。

指标类型 统计周期 公司数值 行业排名/总样本数 行业头部企业数值 行业均值 行业中位数
营业收入 2026年三季度 2.55亿元 14/14 长电科技309.52亿元、通富微电248.85亿元 64.25亿元 14.9亿元
净利润 2026年三季度 -609.15万元 12/14 通富微电31.53亿元、长电科技15.89亿元 5.01亿元 5463.86万元

上海华岭集成电路技术股份有限公司近期专利情况如下:

序号专利名称专利类型法律状态申请号申请日期公开(公告)号公开(公告)日期发明人
1存储器内建自动电压微调方法、自测试与修复方法及系统发明专利发明专利申请公布、公布CN202611365612.X2026-09-04CN123033546A2026-11-03傅秀菲、鲍小燕、龙鸿丽、陈翘楚
2一种实现存储即分析的全息存储内近数据智能分析系统和方法发明专利发明专利申请公布、公布CN202611214855.32026-08-11CN123033531A2026-11-03傅秀菲、罗斌、熊忠应、鲍小燕
3一种基于动态功耗补偿的集成电路终测方法及系统发明专利实质审查的生效、公布CN202610519203.42026-04-20CN122131127A2026-06-02顾辉、申晔、朱倩、才宇航、陆彦天
4基于温度历史数据的芯片质量追溯方法及系统发明专利实质审查的生效、公布CN202610302317.32026-03-12CN122150808A2026-06-05顾辉、朱倩、杜巍华
5基于多模态温度感知的芯片测试设备的温度主动调控系统及方法发明专利实质审查的生效、公布CN202511834377.12025-12-08CN121349223A2026-01-16顾辉、罗斌、姬翔
6负载板的存放转运装置发明专利实质审查的生效、公布CN202511620038.32025-11-06CN121225126A2025-12-30顾良波、武君伟、崔孝叶
7可追溯的芯片测试系统及芯片测试方法发明专利实质审查的生效、公布CN202511603726.92025-11-04CN121299418A2026-01-09武君伟、佘海霞、顾良波
8基于主动泄放与分段控制的电流测试放电方法及系统发明专利授权CN202511429772.12025-10-09CN120915112B2025-12-26杨自洪、佘海霞、吴钇红
9一种基于ATE的毫米波芯片幅相测量装置及方法发明专利发明专利申请公布后的驳回、实质审查的生效、公布CN202511086526.02025-08-05CN120602011A2025-09-05刘龙超、周军、李小媛
10一种基于分段扫描的多频段滤波器S参数测试方法及系统发明专利授权、公布CN202511062119.62025-07-31CN120559330B2025-11-04刘龙超、周军、李小媛
11测试数据的压缩方法、压缩装置、计算机可读存储介质及电子设备发明专利实质审查的生效、公布CN202510562110.52025-04-30CN120474558A2025-08-12王华、顾辉、杨自洪
12芯片输出电平测试方法、系统、设备、介质及程序产品发明专利实质审查的生效、公布CN202510150239.52025-02-11CN119936626A2025-05-06杨自洪、许启康、苟文强
13用于芯片测试的可调节转运系统发明专利实质审查的生效、公布CN202510151414.22025-02-11CN119993887A2025-05-13顾良波、严高建、武君伟
14基于自动测试机寻找触发点的方法发明专利实质审查的生效、公布CN202510070512.32025-01-16CN119881594A2025-04-25吴钇红、姬翔、杨自洪
15芯片分选机分bin扩展装置、芯片分选系统及芯片分选方法发明专利实质审查的生效、公布CN202411883940.X2024-12-19CN119694946A2025-03-25武君伟、顾良波、严高建
16封装芯片清洁测试系统及方法发明专利实质审查的生效、公布CN202411817984.22024-12-11CN119667439A2025-03-21岳小兵、耿超辉、姚世伟
17基于遗传算法的测试稳定性提升方法及系统发明专利授权、公布CN202410501266.82024-04-25CN118068168B2024-06-28余琨、王玉龙
18一种对芯片进行测试的方法和装置发明专利实质审查的生效、公布CN202410455427.42024-04-16CN118349449A2024-07-16熊忠应、王玉龙、季海英、郭云
19晶圆测试方法发明专利授权、实质审查的生效、公布CN202410303440.82024-03-18CN117890771B2024-05-31余琨、王华、严高建、郭云
20批量芯片测试方法、装置及电子设备发明专利授权、实质审查的生效、公布CN202410303433.82024-03-18CN117907809B2024-06-28余琨、王玉龙、祁建华、程茗姝
21一种新型的设备智能预测性维护方法发明专利实质审查的生效、公布CN202410172099.72024-02-07CN117974110A2024-05-03傅秀菲、郭云、赵多智、程茗姝
22一种新型的并行测试系统与方法发明专利实质审查的生效、公布CN202410172570.22024-02-07CN118068170A2024-05-24傅秀菲、鲍小燕、朱倩、昃妤婷
23探针卡以及芯片测试系统发明专利实质审查的生效、公布CN202410146327.32024-02-01CN117990962A2024-05-07李文敬、祁建华、余琨、沈逸杰
24一种自带存放位置的芯片测试装置发明专利授权CN202410142708.42024-02-01CN117849590B2026-08-18顾良波、祁建华、余琨、陈俊烨
25多站点晶圆测试方法发明专利实质审查的生效、公布CN202311814690.X2023-12-26CN117727650A2024-03-19侯义平、邵嘉阳、许焱林、刘幻
26ATE测试方法、ATE测试系统、电子设备及存储介质发明专利实质审查的生效、公布CN202311391649.62023-10-25CN117406063A2024-01-16杨自洪、余琨、王华、顾良波、严高建
27一种电路板检测系统及方法发明专利授权CN202310441946.02023-04-23CN116593496B2026-06-09傅秀菲、鲍小燕
28固定装置发明专利实质审查的生效、实质审查的生效、公布CN202310317019.82023-03-28CN116298805A2023-06-23熊忠应、徐春、祁建华、叶建明
29一种基于关系模型的成品芯片测试硬件管理方法发明专利实质审查的生效、公布CN202310053876.12023-02-03CN116185732A2023-05-30昃妤婷、王玉龙、熊忠应、赵多智
30一种带光源的ATECIS测试夹具及其测试方法发明专利发明专利申请公布后的驳回、实质审查的生效、公布CN202310053770.12023-02-03CN116298776A2023-06-23周超、王华、唐靖翔
31一种生成对于存储器进行测试的测试向量的方法发明专利授权CN202310062875.32023-01-18CN116110491B2026-04-24李文敬、顾辉、唐靖翔
32芯片测试装置及测试方法发明专利实质审查的生效、公布CN202310065093.52023-01-13CN115902593A2023-04-04朱倩、鲍小燕、周俊、傅秀菲
33一种CIS芯片测试系统发明专利实质审查的生效、公布CN202211596873.42022-12-12CN116008776A2023-04-25杨自洪、周超、侯义平
34一种用于集成电路晶圆测试的转接组件发明专利实质审查的生效、公布CN202211558739.52022-12-06CN115902586A2023-04-04王华、李文敬、罗斌、顾良波
35一种针卡保护盖自动化操作装置、探针台及晶圆检测装置发明专利授权CN202211512395.42022-11-29CN115728529B2025-11-28顾良波、李文敬、杨自洪
36一种芯片的追踪方法和装置发明专利授权、公布CN202211436559.X2022-11-16CN115858271B2025-07-22王玉龙、鲍小燕、熊忠应、赵多智
37一种用于印刷电路板的夹具发明专利授权CN202211413918.X2022-11-11CN116008601B2026-08-28张寅、张杰
38电容测量装置及电容测量方法发明专利授权、实质审查的生效、公布CN202210485515.X2022-05-06CN114879009B2025-09-09余琨、王华
39基于自动测试设备的测试方法及系统发明专利发明专利申请公布后的驳回、实质审查的生效、公布CN202210305719.02022-03-23CN114646864A2022-06-21王华、吴一、李文敬
40晶圆的测试方法、装置及计算机可读存储介质发明专利授权、实质审查的生效、公布CN202210283836.12022-03-21CN114678288B2025-11-28王玉龙、鲍小燕、熊忠应
41半导体器件的测试方法发明专利授权CN202210204743.52022-03-03CN114582748B2025-11-28邵嘉阳、凌俭波、王华、王辉
42一种探针台磨针设置的方法发明专利实质审查的生效、公布CN202210187538.22022-02-28CN114551269A2022-05-27熊忠应、祁建华
43晶圆上器件的测试方法发明专利发明专利申请公布后的驳回、实质审查的生效、公布CN202210190798.52022-02-28CN114551270A2022-05-27吴一、余琨
44一种基于ATEtrim分卡测试存储数据的优化方案发明专利发明专利申请公布后的驳回、实质审查的生效、公布CN202210188367.52022-02-28CN114974385A2022-08-30周超、王华
45一种芯片测试结果的可靠的数据传输验证方法发明专利授权、实质审查的生效、公布CN202210188380.02022-02-28CN114625711B2025-10-10侯义平、邵嘉阳
46芯片高低温测试装置发明专利发明专利申请公布后的驳回、实质审查的生效、公布CN202210179417.32022-02-25CN114545126A2022-05-27刘善浩、王玉龙、顾良波、罗斌
47获取测试针压的方法、装置、介质和电子设备发明专利发明专利申请公布后的驳回、实质审查的生效、公布CN202210101499.X2022-01-27CN114496830A2022-05-13陈清云、岳小兵、张杰、蒋志华
48芯片最终测试系统发明专利发明专利申请公布后的驳回、实质审查的生效、公布CN202210101501.32022-01-27CN114518523A2022-05-20朱倩、王玉龙、吴勇佳、周官宏
49一种半导体测试通信方法、装置及系统发明专利发明专利申请公布后的驳回、实质审查的生效、公布CN202210056830.02022-01-18CN114398215A2022-04-26张杰、邵嘉阳、侯义平、凌俭波
50获取探针卡上测试针位置分布方法、装置、介质和电子设备发明专利发明专利申请公布后的驳回、实质审查的生效、公布CN202210049197.22022-01-17CN114252666A2022-03-29傅秀菲、牛勇、朱倩、范文萱

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