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广立微申请电阻监控测试结构相关专利，该测试结构可独立监控量化器件多区域电阻

新浪证券-红岸工作室

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11月3日消息，国家知识产权局信息显示，杭州广立微电子股份有限公司申请一项名为“用于器件多区域电阻监控的测试结构和测试方法”的专利。申请公布号为CN123022217A，申请号为CN202611132039.8，申请公布日期为2026年10月30日，申请日期为2026年7月29日，发明人李有多，专利代理机构苏州拓鑫优博知识产权代理事务所（普通合伙），专利代理师高艳辉，分类号H10P74/20。

专利摘要显示，本申请提供一种用于器件多区域电阻监控的测试结构和测试方法，该测试结构包括至少一个测试单元，测试单元包括：待测器件、辅助器件和金属互连网络。待测器件包括第一栅极、第一源极和第一漏极；辅助器件包括第二栅极，第二源极以及第二漏极；金属互连网络包括第一M1金属、第二M1金属以及M2金属；第一源极和第一漏极分别通过金属互连网络接出；其中，第一源极和第一漏极中的至少一者，与辅助器件中对应的第二源极或第二漏极形成共接掺杂区；共接掺杂区通过第一接触孔连接第一M1金属，第一M1金属连接M2金属；辅助器件中的非共接掺杂区通过第二接触孔连接第二M1金属。通过本申请，实现了对器件不同区域电阻的独立监控与量化分析。

广立微是国内领先的集成电路EDA与测试设备厂商，深耕相关领域技术研发，2003年8月12日成立，2022年8月5日于深圳证券交易所上市，注册及办公地点均位于浙江省杭州市。

公司主营业务为集成电路EDA软件和晶圆级电性测试设备的设计、开发与服务，申万行业分类隶属于计算机-软件开发-垂直应用软件，同时覆盖人工智能、芯片概念、TMT三大热门概念板块。

2026年三季度，广立微实现营业收入5.82亿元，在所属101家同行业企业中排名第43位，低于行业平均18.14亿元，高于行业中位数4.2亿元，同期行业营收前两位分别为上海钢联618.5亿元、德赛西威244.2亿元；当期实现净利润6227.97万元，行业排名第22位，显著高于行业平均数2734.25万元，大幅领先行业中位数-746.35万元，同期行业净利润前两位分别为同花顺20.37亿元、德赛西威17.98亿元。

指标类型 当期数值 行业排名/总家数 行业头部企业数值 行业平均数 行业中位数
营业收入 5.82亿元 43/101 上海钢联618.5亿元、德赛西威244.2亿元 18.14亿元 4.2亿元
净利润 6227.97万元 22/101 同花顺20.37亿元、德赛西威17.98亿元 2734.25万元 -746.35万元

杭州广立微电子股份有限公司近期专利情况如下：

序号专利名称专利类型法律状态申请号申请日期公开(公告)号公开(公告)日期发明人
1接触孔接触电阻测试结构及测试方法发明专利发明专利申请公布、公布CN202611132289.12026-07-29CN122935214A2026-10-16吴傲路、刘慧斌
2用于器件多区域电阻监控的测试结构和测试方法发明专利发明专利申请公布、公布CN202611132039.82026-07-29CN123022217A2026-10-30李有多
3一种版图图形的连通性判断方法、装置和可读存储介质发明专利实质审查的生效、公布CN202611081333.02026-07-21CN122598222A2026-08-18王雁叶、张永博、徐海达
4基于图形独立性的图形处理方法、装置、介质和仿真方法发明专利公布CN202610943860.12026-06-29CN122471983A2026-07-28王雁叶、张永博、徐海达
5一种金属表面沉积形貌的仿真方法、装置和可读存储介质发明专利授权CN202610628188.72026-05-09CN122154629B2026-08-18谢煜威、邢华林
6一种监测有源区工艺均匀性的测试结构和测试方法发明专利实质审查的生效、公布CN202610562563.22026-04-27CN122592733A2026-08-18姜慧虹、黄琦
7高精度可寻址环形振荡器测试芯片、方法、装置和介质发明专利实质审查的生效、公布CN202610466440.92026-04-10CN122109689A2026-05-29杨璐丹、俞姚杰、蓝帆、应迪、李猛超、郑勇军
8单向扫描方法、装置、存储介质和仿真方法发明专利授权CN202610131140.52026-01-30CN121615594B2026-07-03王雁叶、张永博、徐海达
9一种半导体数据处理方法、装置、计算机设备和存储介质发明专利实质审查的生效、公布CN202610100712.32026-01-26CN121984514A2026-05-05金培源、陈小川、邵康鹏
10仿真软件测试方法、计算机设备、存储介质和程序产品发明专利实质审查的生效、公布CN202610102887.82026-01-26CN122174783A2026-06-09邢华林、谢煜威、吴徐伟
11用于电子设备的智能化数据分析图形用户界面（二）外观专利外观设计专利权授予、授权CN202630036917.02026-01-23CN310246901S2026-10-09曹桫敏、姜辉、叶倩倩、林郁昊、卢鹏宇、王新瑞、李帅朝、方卓越
12用于电子设备的智能化数据分析图形用户界面（一）外观专利外观设计专利权授予、授权CN202630036865.72026-01-23CN310246900S2026-10-09曹桫敏、姜辉、叶倩倩、林郁昊、卢鹏宇、王新瑞、李帅朝、方卓越
13用于电子设备的数据分析图形用户界面的AI助手模块外观专利外观设计专利权授予、授权CN202630036741.92026-01-23CN310258902S2026-10-16曹桫敏、姜辉、叶倩倩、林郁昊、卢鹏宇、王新瑞、李帅朝、方卓越
14片上可寻址的晶体管测试电路及方法、装置、芯片和介质发明专利公布CN202512053326.12025-12-31CN121831442A2026-04-10施姣、杨璐丹、尤炎
15一种晶圆图像的标尺识别方法、系统和可读存储介质发明专利公布CN202512037948.52025-12-31CN121838169A2026-04-10林郁昊、姜辉、王啸飞
16一种图像聚类方法、系统和可读存储介质发明专利公布CN202512036200.32025-12-31CN121837680A2026-04-10王啸飞、姜辉
17自动化测试方法、计算机设备、可读存储介质和程序产品发明专利实质审查的生效、公布CN202512052207.42025-12-31CN121858289A2026-04-14黄倩滨、吴徐伟、代明杨
18用于电子设备的晶圆缺陷图案分析图形用户界面外观专利授权CN202530780265.72025-12-31CN310163104S2026-08-21姜辉、张鹏、叶倩倩、曹桫敏
19用于电子设备的晶圆缺陷图案匹配图形用户界面外观专利授权CN202530780311.32025-12-31CN310163105S2026-08-21叶倩倩、姜辉、曹桫敏
20一种图像缺陷检测方法、系统和可读存储介质发明专利实质审查的生效、公布CN202511869626.02025-12-11CN121353267A2026-01-16林立恒、姜辉、叶倩倩
21并行测试方法及模块信息转换方法、装置和可读存储介质发明专利实质审查的生效、公布CN202511826889.32025-12-05CN121613289A2026-03-06王琦、毛俊
22片上测试电路及其设计与测试方法、装置、芯片和介质发明专利发明专利权授予、授权、实质审查的生效、公布CN202511826641.72025-12-05CN121500066B2026-10-13罗惠元、郑琳、蓝帆、王山川、王同营
23基于失效模式的测试芯片设计方法、装置、介质和芯片发明专利实质审查的生效、公布CN202511397346.42025-09-28CN121189256A2025-12-23施姣、杨璐丹、瞿屹超
24一种数字电路的仿真方法、装置、系统、设备和介质发明专利公布CN202510871865.32025-06-26CN120832857A2025-10-24彭华晨、连海鹏、王名洺、邵哲青、任杰
25面向电路可测试性的设计规则检查方法、装置和存储介质发明专利实质审查的生效、公布CN202510872134.02025-06-26CN120850942A2025-10-28董彦璐、任杰
26扫描链重组方法、装置、设备和存储介质发明专利实质审查的生效、公布CN202510833484.62025-06-20CN121303022A2026-01-09连海鹏、任杰
27低引脚数芯片测试电路、测试方法及设备发明专利授权、公布CN202510766209.72025-06-10CN120294544B2025-09-16王瀚锌
28DRC测试结果验证方法、装置、设备和存储介质发明专利授权、实质审查的生效CN202510758113.62025-06-09CN120278095B2025-11-18张鹏飞
29芯片的时钟信号生成方法、电路和计算机可读存储介质发明专利发明专利申请公布后的驳回、实质审查的生效、公布CN202510707329.X2025-05-29CN120215627A2025-06-27曾冉冉、蓝帆、潘伟伟、王山川
30芯片读写能力测试设备、方法、可读存储介质和系统发明专利授权CN202510706792.22025-05-29CN120236642B2025-11-18王山川、蓝帆、俞姚杰
31存储芯片和半导体测试系统发明专利授权CN202510707791.X2025-05-29CN120236643B2025-11-25王山川、蓝帆、曾冉冉
32阈值电压测试电路、测试芯片、测试方法和可读存储介质发明专利实质审查的生效、实质审查的生效、公布CN202510631171.22025-05-16CN120148599A2025-06-13王同营、于天祺
33探针卡针尖状况检测方法、结构、晶圆以及晶圆测试方法发明专利授权、实质审查的生效、公布CN202510517717.12025-04-24CN120044341B2025-07-18陈海平、林均铭
34测试方案生成方法及知识库构建方法发明专利实质审查的生效、公布CN202510488799.12025-04-17CN120629852A2025-09-12王啸飞、姜辉、蒲怀建
35半导体设备文档生成方法、装置、计算机设备和存储介质发明专利公布CN202510488599.62025-04-17CN120764510A2025-10-10王啸飞、姜辉、蒲怀建
36用于电子设备的数据健康分析图形用户界面外观专利授权CN202530122491.62025-03-14CN309949463S2026-04-28詹昀谕、曹桫敏
37用于电子设备的报警模拟与分析图形用户界面外观专利授权CN202530122735.02025-03-14CN310000170S2026-05-26詹昀谕、曹桫敏
38用于晶圆键合工艺检测的测试结构实用新型授权CN202520003257.62025-01-02CN223712767U2025-12-23黄琦
39半导体栅极侧墙厚度测试方法、结构、装置及存储介质发明专利授权、实质审查的生效、公布CN202411795950.82024-12-09CN119297105B2025-04-01陈海平
40基于测试结构设计的绕线方法、绕线装置和可读存储介质发明专利授权、实质审查的生效、公布CN202411688634.02024-11-25CN119203909B2025-04-08俞姚杰、杨璐丹、潘伟伟
41探针针压自动控制装置和晶圆接受测试系统发明专利授权、实质审查的生效、公布CN202411678454.42024-11-22CN119178914B2025-08-08陈海平
42ILD厚度监测结构实用新型授权CN202422857931.52024-11-22CN223450897U2025-10-17侯嘉慧、苌文龙、袁天浩
43一种用于监控注入阴影效应的测试结构实用新型授权CN202422629751.12024-10-30CN223414082U2025-10-03郑苗苗、苌文龙
44版图图形的插孔方法、装置、存储介质和仿真方法发明专利授权、实质审查的生效、公布CN202411441627.02024-10-16CN118966139B2025-07-01郭瑞琦、张永博
45基于空间索引的插孔方法、装置、存储介质和设备发明专利实质审查的生效、公布CN202411442992.32024-10-16CN121881961A2026-04-17张永博、郭瑞琦
46一种版图处理方法、装置和计算机可读存储介质发明专利授权、实质审查的生效、公布CN202411428046.32024-10-14CN118940711B2025-07-01张永博、郭瑞琦
47基于器件属性概率分布的器件选择方法、装置及存储介质发明专利发明专利申请公布后的驳回、公布CN202411411601.12024-10-11CN118942107A2024-11-12王同营、蓝帆
48基于器件属性概率分布的器件筛选方法、装置及存储介质发明专利发明专利申请公布后的驳回、公布CN202411411577.12024-10-11CN118942106A2024-11-12王山川、蓝帆
49版图文件拼接方法、装置和计算机可读存储介质发明专利授权、实质审查的生效、公布CN202411368670.92024-09-29CN118887085B2025-03-18施向波、张永博
50一种设计规则检查结果的过滤方法、装置及存储介质发明专利授权、实质审查的生效、公布CN202411357796.62024-09-27CN118862827B2025-02-25鲁海洋、方益

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