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电子|工艺分析:刻蚀设备重要性提升的三重逻辑

中信证券研究

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|徐涛  王子源

我们预计,至少以下三方面的技术趋势将推动刻蚀设备的用量和重要性提升:(1)光刻多重图案化路线的采用,(2)三维堆叠存储和近存计算需求,(3)底层晶体管结构升级。长期看,半导体设备国产化方向明确,短期来看,下游扩产有望驱动行业进入新一轮增长期。建议关注国内刻蚀设备厂商以及相关配套设备、零部件企业机会。

在多重图案化、更高层数3D 堆叠(如3D NAND、3D DRAM)、GAA晶体管结构升级等产业趋势下,刻蚀设备的用量和重要性有望显著提升。

根据Wccftech报道,一位英特尔高管表示,未来晶体管设计(如GAAFET和CFET)可能降低芯片制造对先进光刻设备(尤其是EUV光刻机)的依赖,而刻蚀技术将取代光刻成芯片制造核心。我们认为,随着当前半导体的器件设计和整体设计均在走向立体结构化,这种变化正在发生。

多重图案化:当前EUV光刻技术路线受限,DUV多重图案化成为国产突围关键,带动刻蚀设备用量成倍提升。

7nm节点有两类光刻路线,即EUV单次光刻和DUV多重图案化。根据Semi wiki的数据,采用DUV多重图案化的方式,可以继续迭代至3nm。当前中国大陆EUV设备进口受到限制,而DUV多重图案化路线成为关键。原本EUV方案下需要1次先进光刻+1次刻蚀才能完成的精细图案,在自对准四重图案化(SAQP)方案中则需要4次刻蚀和2次光刻来完成,这直接导致了DUV方案下刻蚀设备在生产线上的使用步骤增加至EUV方案的4倍,在假定每步工序工时不变的情况下,刻蚀设备用量也提升至4倍。

3D堆叠需求:存储层数提升扩大刻蚀用量,近存计算增加TSV刻蚀需求。

3D NAND为了提升存储密度,不再追求平面上的线宽缩小,而是将存储单元垂直堆叠。目前主流产品已超过200层,未来将向1000层迈进。DRAM未来也有类似的3D堆叠层数的技术路线图。这使得对刻蚀设备的需求量和性能要求呈指数级增长。在从32层提高到128层的过程中,刻蚀设备用量增量最为明显,用量占比从35%提升至48%。随层数增加,还需要更高深宽比的刻蚀设备。当前主流的232层3D NAND大多采用60:1深宽比刻蚀设备,后续90:1刻蚀技术有望用于3XX层及更高层数的3D NAND量产。此外,在封装层面,需要在z轴方向进行3D拓展的场景大多需要采用TSV(硅通孔)工艺。AI训练和推理对存储带宽需求显著提升,由此衍生出HBM+CoWoS、CUBE等近存计算方案,需要将存储与存储,或者存储与计算在纵向(z轴)进行3D连接,或者横向(x轴和y轴)进行2.5D连接。TSV工艺中刻蚀和填充设备占比接近70%,将进一步增加刻蚀设备需求。

GAA晶体管:先进制程GAA晶体管导入,带动刻蚀设备占比提升,新增原子层刻蚀设备需求。

GAAFET是接替FinFET的下一代晶体管技术,台积电2025年在2nm导入该技术,我们认为未来国内也将在此方向迭代跟进。GAA相比于FinFET的刻蚀工艺用量将显著增加,FinFET有5道步骤涉及刻蚀工艺,而GAA晶体管有9道步骤涉及刻蚀工艺,增量步骤主要来自纳米线结构的形成。根据IMM信息的数据,刻蚀设备在先进制程中的用量占比将从传统FinFET时代的20%上升至GAA架构下的35%,单台设备价值量同比增长12%。此外,GAA晶体管还新增了高选择性的SiGe各向同性刻蚀需求,目前主流方法采用ALE(原子层刻蚀)的方式完成,国内厂商已经进行相关研发布局,有望应用于3nm及以下的GAA结构、纳米片结构等高精度逻辑芯片的刻蚀。

风险因素:

全球宏观经济低迷风险;下游需求不及预期;国际产业环境变化和贸易摩擦加剧风险;设备和原材料供应的风险;国产化推进不及预期;汇率大幅波动等。

投资策略:

长期看,半导体设备国产化方向明确:一方面,国内晶圆厂在全球市占率从目前的约10%(Trendforce数据)若提升到自给自足情形下30%(中国半导体市场约占全球30%,SEMI数据),有3倍扩产空间;另一方面,设备国产化率从当前约20%(我们根据中国招标网数据测算)若提升至未来60%~100%(分别考虑替代美国设备对应的约40%份额,以及全国产化情形),有3~5倍空间,发展趋势明确。短期来看, 2025年国内半导体晶圆厂投资表现相对平淡,但随着国内头部存储厂商新一期项目有望启动,且先进逻辑厂商加大扩产力度,半导体设备有望进入新一轮快速增长期。我们认为,在光刻多重图案化、三维堆叠、晶体管结构升级的产业趋势下,刻蚀设备的用量和重要性有望显著提升。从投资角度,建议重点关注半导体刻蚀设备以及相关的配套设备及零部件环节。

本文节选自中信证券研究部已于2025年9月19日发布的《电子行业半导体晶圆制造行业系列专题之(二)—工艺分析:刻蚀设备重要性提升的三重逻辑》报告,具体分析内容(包括相关风险提示等)请详见报告。若因对报告的摘编而产生歧义,应以报告发布当日的完整内容为准。

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